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美凯智视

Prisma-L 3D AOI

SMT设备

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Prisma不仅拥有高精度3D检测能力，独家AI能力可检测任意形态脏污、异物、划伤裂纹、破损等外观缺陷，且无需大量样本训练。
Beta 2D AOI

SMT设备

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Beta系列结合高精度成像与深度学习AI算法，精准检测各类SMT缺陷，适用于炉前和炉后。
Delta DIP AOI

SMT设备

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Delta系列专为波峰焊/插件工艺设计，支持PCB正背面同时检测，配备DIP专用AI算法，一键自动编程，大幅简化调试。
Omega AVI

SMT设备

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Omega系列专为PCB外观终检设计，采用AI算法检测各类复杂外观缺陷，支持正背面同时检测，是替代人工目检的理想选择。
Sigma 3D SPI

SMT设备

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Weber-N具备完整的WB 3D成像能力，多层对焦功能实现无限景深、全板清晰成像；搭载零负样本AI检测技术，可精准识别复杂外观缺陷，专为光通讯模块的金线、金球、芯片缺陷检测设计。
Weber-N

半导体设备

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Weber-N具备完整的WB 3D成像能力，多层对焦功能实现无限景深、全板清晰成像；搭载零负样本AI检测技术，可精准识别复杂外观缺陷，专为光通讯模块的金线、金球、芯片缺陷检测设计。
Weber-I

半导体设备

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Weber系列采用高精度多重聚焦3D成像算法，结合多路光源系统（同轴+高角度+低角度），完美获取3D图像及高清全景深2D图像，专为IGBT模块的铝线、焊点等缺陷检测设计，满足功率半导体器件的严苛检测需求。