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    Weber系列采用高精度多重聚焦3D成像算法,结合多路光源系统(同轴+高角度+低角度),完美获取3D图像及高清全景深2D图像,专为IGBT模块的铝线、焊点等缺陷检测设计,满足功率半导体器件的严苛检测需求。


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商品描述
Weber系列采用高精度多重聚焦3D成像算法,结合多路光源系统(同轴+高角度+低角度),完美获取3D图像及高清全景深2D图像,专为IGBT模块的铝线、焊点等缺陷检测设计,满足功率半导体器件的严苛检测需求。



1.产品简介:

Weber系列采用高精度多重聚焦3D成像算法,结合多路光源系统(同轴+高角度+低角度),完美获取3D图像及高清全景深2D图像,专为IGBT模块的铝线、焊点等缺陷检测设计,满足功率半导体器件的严苛检测需求。


2.核心指标:

IGBT专用检测设备


3.核心特点:

(1)高精度多重聚焦3D成像算法 + 多路光源系统:同时获取3D图像及高清全景深2D图像,细节清晰可辨。

(2)高密度大理石平台:为高精度成像提供稳定保障。

(3)多角度光源 + 高分辨率相机 + 远心镜头:大幅提升检测效果,适应复杂表面。

(4)最新自研AAM绝对精度测量系统:精确检测铝线不良,如铝线缺失、断裂、塌陷等。

(5)3D+AI可检测缺陷:覆盖铝线不良、焊点缺陷、异物、划伤等多种类型。


4.设备参数:

项目规格
产品型号Weber-I
相机12MP / 21MP(可选)
分辨率10μm(12MP)/ 5.7μm(21MP)
相机接口CXP6(12MP)/ CXP12(21MP)
FOV(mm×mm)40×30(12MP)/ 30×23(21MP)
可检测最小缺陷尺寸20μm(12MP)/ 15μm(21MP)
光源RGBW四色LED多角度光源
检测速度≤10cm/s(12MP)/ ≤4cm/s(21MP)
可检测区域50×50mm ~ 365×350mm
运动精度重复定位精度0.5mm,绝对定位精度1mm
电源电压200V-230V AC 50/60Hz
额定功率2.2KW
气压0.4-0.6MPa
总重量1100kg
外观尺寸W900mm × D1470mm × H1982mm
环境温度20℃ ~ 25℃
环境湿度45%RH ~ 65%RH(无凝结)
附加功能AI大数据训练中心、定制上下料机构、SPC数据统计、维修站软件、离线编程、远程集中复判、条码识别/OCR


5.应用领域:

IGBT模块、功率半导体器件、汽车电子等高可靠性功率封装检测。


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